مشخصات کیفی باریکه پرتو X
medradiation | چهارشنبه, ۱۳ مرداد ۱۴۰۰، ۰۵:۰۵ ب.ظ
لایه نیم جذب برای اندازه گیری کیفیت پرتو X در انرژی های سطحی و اورتوولتاژ امکان پذیر است (HVL آلومینیم برای سطحی و HVL مس برای اورتوولتاژ)؛ ولی در مورد انرژی های مگاولتاژ امکان پذیر نیست زیرا در این دامنه انرژی، تغییرات ضریب تضعیف برحسب انرژی بسیار ناچیز است.
Half - Value Layer (HVL)
رفرنس: فیزیک آنکولوژی تابش - پادگورساک